logo

details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
De Kamer van de hoge Hoogtetest
Created with Pixso.

Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing

Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing

Merknaam: Envsin
Modelnummer: ECQ
Moq: 1 REEKS
Prijs: $5000 >=1 Set
Betalingsvoorwaarden: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Toeleveringsvermogen: 30 Reeksen per maand
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Guangdong
Certificering:
ISO CE
Testvolume:
250L, 500L, 1000L en ander op maat gemaakt volume
Temperatuurbereik:
-70~150℃
Verwarming en koeling:
1°C/min,5°C/min,10°C/min ((Verstelbaar)
Luchtdruk:
Normale druk ~ 0,5 kPa
Depressuriseringstijd:
<= 45 min ((normale druk ~ 1 kPa)
Drukprecisie:
±2 kPa streefwaarde ((normale druk ~ 40 kPa) Uitgebreide snelle depressuriseringsfunctie
Depressuriseringsbereik:
72.5 kPa~18.8 kPa
Depressuriseringstijd:
15 seconden
Levering vermogen:
30 Reeksen per maand
Markeren:

de multifunctionele Kamer van de Hoge Hoogtetest

,

18.8kPa de Kamer van de hoge Hoogtetest

,

18.8kPa de kamer van de druktest

Productbeschrijving

 

Laagdrukkamers met temperatuur- en luchtvochtigheidscontroles
Deze testkamer is geschikt voor het simuleren van milieutests van hoge temperatuur, lage temperatuur, vochtige hitte,een enkele klimaatfactor of meerdere klimaatfactoren voor de gehele machine,componenten en materialen.
 
 
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 0
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 1
Kenmerken
• Hoogwaardige waterring vacuümpomp regelt lage druk.

• Modieus ontwerp van modulaire constructies.
 
• Een ingebouwd stralingsschild zorgt voor een gelijkmatige temperatuur bij lage luchtdruk.
 
 
 
 

 
 
Productparameters
Temperatuurkamers
ETQ7025
ETQ7050
ETQ7100
ETQ7200
Klimaatkamers
EGQ7025
EGQ7050
EGQ7100
EGQ7200
Volume van de testruimte (L)
250
500
1000
2000
Temp. Testparameters:
Temperatuurbereik (°C)
-70~+150
Temperatuurconstantie (°C)
±0,1-±0,8 (atmosferische druk zonder belasting)
Temperatuurhomogeniteit ((°C)
±0,5-±2,0 (atmosferische druk zonder belasting)
Temperatuurnauwkeurigheid (°C)
±2,0 (atmosferische druk zonder belasting)
Opwarmtijd (min) (+ 20 °C tot ~ 150 °C)
 
60
 
60
 
50
 
60
Afkoeltijd (min) (+ 20°C tot ~ 60°C)
 
90
 
80
 
60
 
80
Drukbereik (Kpa)
Atmosferische druk ~1,0 Atmosferische druk ~0.5
Druknauwkeurigheid (Kpa)
±2 (atmosferische druk ~40KPa); ±5% ((40KPa~4KPa); ±0.1 ((4KPa~1KPa)
Tijd van drukvrijstelling (min)
 
45 ((Atmosferische druk→1KPa)
Vinnige drukvrijstelling (facultatief)
 
Versnelling van de druk: 75,2 KPa → 18,8 KPa; tijdsduur van de druk: 15 sec.
Klimaattestparameters voor ECQ-reeksen:
Temperatuurbereik (°C)
+10~+95
Temperatuur.Constantie (°C)
± 0,1 ± 0,8 (atmosferische druk zonder belasting)
Temperatuurhomogeniteit (°C)
±0,1~±2,0 (atmosferische druk zonder belasting)
Vochtig. Bereik (% RH)
(10) 20-98 (atmosferische druk zonder belasting)
Vochtigheid. Constantie (% RH)
±1-±3 (atmosferische druk zonder belasting)
Testruimte afmeting (mm)
 
600W × 600D × 700H
 
800W × 700D × 900H
 
1000W × 1000D × 1000H
 
Voor de toepassing van deze verordening geldt dat de in punt 3.4.1 van deze bijlage vermelde voorschriften worden nageleefd.
Buitenafmeting (mm)
1000W × 1800D × 1880H
1500 W × 2750 D × 1900 H
Voor de toepassing van deze verordening geldt dat de in bijlage I vermelde voorschriften worden nageleefd.
1810W × 3710D × 2310H
Kracht
AC380V±10%, 50HZ, 3/N/PE
Koelmethoden
Watergekoeld
Opties Accessoires
I. Onafhankelijke sensoren voor de bescherming van monsters (NE60519-2.1993)
• 1 Inlaatpoort Φ50 mm
• Hulpapparaat voor stikstofgas
• Pakket met reserveonderdelen
• Videobewakingssysteem
Kwaliteitscontrole
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 2
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 3
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 4
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 5
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 6
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 7
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 8
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 9
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 10
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 11
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 12
Naleving van MIL-STD-810H en IEC 60068-2-13 Advanced Altitude Test Chamber for Electronics Durability Testing 13
Standaardversie
1 Set testelektrode
• Elektronische temperatuur- en vochtigheidssensoren